ISTA+MIL-STD-810+IEC 60601+GB/T 14710方法学通用
IVD产品环境与可靠性测试 — 环境应力筛选/跌落/振动/温湿度循环/ESD/老化综合方案
发布日期：未知
文档来源：ISTA+MIL-STD-810+IEC 60601+GB/T 14710
原文件：未上传
概述
IVD产品环境与可靠性测试 — 环境应力筛选/跌落/振动/温湿度循环/ESD/老化综合方案 一、环境应力筛选(ESS Environmental Stress Screening):目的:早期暴露制造缺陷(焊接虚焊/元件参数漂移/装配不良)。方法:温度循环(-20度到+60度,升降温速率5-10度每min,循环10-20次),每个温度平台保持30-60min,循环中设备通电运行并在线监测。判定:筛选后功能正常/性能参数无超差(偏差<10%)。适用:电子仪器产品(读条仪/发光仪/PCR仪)生产阶段100%筛选。 二、跌落试验(Drop Test):标准:ISTA 3A(包装运输跌落)/ISTA ...